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7-OSSR 光学表面散射系数测量系统
本系统应用于光学元件表面散射率的测量,主要针对大尺寸光学元件。 指数指标散射率检测精度 0.1%升降机构重复定位精度:0.02mm旋转机构重复定位精度:50A/D(电子学系统参数):16bit
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安东帕MCR显微可视流变仪/流变-光学同步测量系统
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瑞士梅特勒托利多 InPro6880i (光学氧测量系统)
仪器简介:生物技术应用的光学氧测量传感器(又名光学氧传感器、光学溶解氧、光学氧测量、荧光法溶解氧、荧光溶解氧)InPro6880i 系列树立了氧测量系统的操作实用性和测量质量的新标准。光学
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PGI Matrix 高速全自动高精密光学测量系统
简易的程序设置。 快速实用的分析工具能够帮助定位调整和提高测量速度, 大大缩短了自动测量周期。 先进的非球面分析软件(AAU)对形状误差、半径、斜率误差和环带深度进行即时分析, 保证光学质量并节省时间
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LED灯具光学测量系统FluxGage
,可提供色度和flicker的测试。FluxGage™功能和特点系统用于测试光通量、颜色和Flicker;体积是积分球的1/3;实用性强,环境适应性强;价格低廉,可实现多功能测试;LED灯具光学测量
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3D非球面光学面形测量系统
LuphoScan测量平台是一款基于多波长干涉技术(MWLI®)的干涉式扫描测量系统。 它专为旋转对称表面的超精密非接触式3D形状测量而设计, 例如非球面光学透镜。 特征LuphoScan平台能够
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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【海洋光学】 显微光谱测量系统-MicroTEQ-A1
MicroTEQ-A1显微光谱测量系统,集成荧光、共焦拉曼测量功能*。通过把光谱测量模块集成到正置或倒置显微镜上,实现显微荧光、共焦拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、显微镜、光谱测试
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
仪器简介: 仪器名称:ZETA电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料
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RadEye B20便携式α/β表面污染测量仪
用于测量α,β,γ,X辐射。加窗后,可以测量17KeV-3MeV的γ辐射,还可以区分α,β辐射。多种操作模式,9g氧化镥(50Bq/g,1.4nCi/g)刻度源。 探测器:GM计数管,窗直径44mm
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